디스플레이/태양광

디스플레이 글라스의 미세 스크래치, 얼룩, 점 결함, 코팅 불균일을 조명 편차와 분리해 봅니다. 넓고 반사가 강한 표면은 작은 결함이 쉽게 묻히거나 과장되므로 검사 영역을 나누고 조명 조건을 고정해야 합니다. POC에서는 불량 크기와 위치에 따른 판정 기준을 먼저 잡아 작업자 눈검사와 비교합니다.

필름과 글라스 위의 이물, 기포, 눌림 자국, 라미네이션 불량을 반복 검사 항목으로 정리합니다. 투명하거나 반투명한 소재는 배경과 먼지 관리가 결과에 직접 영향을 주기 때문에 촬영 환경을 함께 설계해야 합니다. POC에서는 실제 결함과 촬영 중 붙은 먼지를 구분하는 운영 기준도 필요합니다.

태양광 패널 셀의 깨짐, 얼룩, 패턴 이상, 연결부 문제를 넓은 면적 검사 흐름에서 확인합니다. 패널은 대상이 크고 반복 패턴이 많아 위치 보정과 영역 분할이 중요합니다. POC에서는 전체 패널 판정만 보지 않고 셀 단위로 결함 위치를 남길 수 있는지 확인하는 편이 실무에 유리합니다.

반복 패턴의 끊김, 밀림, 위치 편차, 라인 두께 변화를 기준 이미지와 비교해 분리합니다. 패턴 검사는 작은 오차가 누적되면 전체 제품 성능에 영향을 줄 수 있어 기준 위치를 안정적으로 맞추는 과정이 중요합니다. POC에서는 정상 공정 편차와 실제 결함을 분리해 허용 범위를 단계적으로 잡습니다.

넓은 표면의 색상, 밝기, 얼룩, 표면 균일도를 일정하게 확인합니다. 사람 눈의 피로가 큰 면 검사는 판정 기준이 흔들리기 쉬워 조명 균일도와 카메라 노출을 먼저 고정해야 합니다. POC에서는 전체 평균보다 구역별 편차를 같이 봐야 국부 얼룩이나 가장자리 문제를 놓치지 않습니다.